Сведения о контракте
| Номер контракта: | 83812011756230000230000 |
| Сумма контракта: | 500 000.00 RUB |
| Регион: | Иркутская область |
| Способ размещения заказа: | Закупка у единственного поставщика (подрядчика, исполнителя) |
| Дата проведения аукциона: | 2023-06-28T00:00:00 |
| Дата заключения контракта: | 2023-06-29 |
| Дата публикации: | 2024-01-16 |
| Срок исполнения контракта: | 2024-12-31 |
| Федеральный закон: | 223-ФЗ |
| Ссылка на .json файл контракта: | Перейти |
Заказчик
| Наименование заказчика: | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ ЗЕМНОЙ КОРЫ СИБИРСКОГО ОТДЕЛЕНИЯ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК |
| ИНН / КПП : | 3812011756 / 381201001 |
| Кол-во контрактов (94/44-ФЗ): | 932 |
| Кол-во контрактов (223-ФЗ): | 879 |
| Сумма контрактов (94/44-ФЗ): | 421 689 728 RUB |
| Сумма контрактов (223-ФЗ): | 826 881 538 RUB |
Не нашли, что искали? Нашли ошибку или персональные данные?
Свяжитесь с нами через форму "Напишите нам" (Справа на экране).
Свяжитесь с нами через форму "Напишите нам" (Справа на экране).
Предметы контракта:
|
#
|
Наименование товара, работ, услуг
|
Код продукции
|
Единицы измерения
|
Цена за единицу
|
Количество
|
Сумма,
руб
|
|---|---|---|---|---|---|---|
|
1
|
Идентификация и локальный анализ состава (ЭДС), изучение поверхности в режиме вторичных (SE) и обратно рассеянных электронов (BSE), площадное картирование, катодолюминесцентная топография методом сканирующей электронной микроскопии (СЭМ)
|
72.19.50.000
|
2 400.00
|
|||
|
2
|
Идентификация и локальный анализ состава (ЭДС), изучение поверхности в режиме вторичных (SE) и обратно рассеянных электронов (BSE), площадное картирование, катодолюминесцентная топография методом сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), с публикацией результатов в рецензируемых изданиях в соавторстве с сотрудниками ЦКП
|
72.19.50.000
|
900.00
|
|||
|
3
|
Идентификация и локальный анализ состава (ЭДС, ВДС), изучение поверхности в режиме вторичных (SEI) и обратно рассеянных электронов (COMPO), площадное картирование поверхности методом рентгенспектрального электронно-зондового микроанализа (РСМА)
|
72.19.50.000
|
2 640.00
|
|||
|
4
|
Идентификация и локальный анализ состава (ЭДС, ВДС), изучение поверхности в режиме вторичных (SEI) и обратно рассеянных электронов (COMPO), площадное картирование поверхности методом рентгенспектрального электронно-зондового микроанализа (РСМА), с публикацией результатов в рецензируемых изданиях в соавторстве с сотрудниками ЦКП
|
72.19.50.000
|
1 200.00
|
Комментарии: